Hauptinhalt

Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Energiedispersive Röntgenanalyse (EDX)

Mit der Rasterelektronenmikroskopie (REM) können Informationen aus Strukturen gewonnen werden, die mit blossem Auge oder dem Stereomakroskop nicht mehr erkennbar sind. Hohe Vergrösserungen (mehrere tausendfache Vergrösserungen) sind bei gleichzeitiger Tiefenschärfe möglich.

Der Werkstoff sowie feinste Ausscheidungen oder Fehler können mit der Rasterelektronenmikroskopie, insbesondere mit energiedispersiver Röntgenanalyse (EDX) auf deren chemische Zusammensetzung (O, C und N sowie alle Elemente mit einer Atommasse ≥ 6) analysiert werden.

In unserer geräumigen REM-Probenkammer können Proben und Bauteile von bis zu 10 kg oder 200 mm Durchmesser und 200 mm Höhe untersucht werden.

Ihr Nutzen unserer Rasterelektronenmikroskopie:

  • grosse und schwere Bauteile können ohne "zerstört" zu werden, analysiert werden
  • qualitative Analyse von einzelnen Partikeln
  • Rückschlüsse auf tribologische Mechanismen
  • Bestimmung von kleinsten Werkstofffehlern
  • Bestimmung des korrosionsverursachenden Mediums

Zeiss Evo 60 (REM + EDX)

Bruchfläche eines duktilen Stahls mit Waben

Elektroerosion im Rillenkugellager

Elektroerosion im Rillenkugellager

Mapping eines Oberflächenfehlers

EDX-Analyse einer Ablagerung

KONTAKT

Markus Zgraggen

Metallograf
Stv. Geschäftsleiter
Telefon +41 44 877 63 21
E-Mail markus.zgraggen@iwt-institut.ch